H28.4.1 本社移転をいたしました。

産総研技術移転ベンチャーの認定企業として2011年より、満5年となり、このほど、 産総研を巣立ち、下記の様に業務開始の運びとなりました

これも偏に皆様の温かいご支援の賜物と深謝申し上げる次第でございます

いよいよDdProberの本格販売に努めて参る所存でございますので

何卒倍旧のご愛顧を賜りますようお願い申し上げます

 

<新住所> 〒305-0047

 つくば市千現 2-1-6

 

 つくば研究支援センター内 創業プラザ 204

https://www.tsukuba-tci.co.jp/office/plaza/map

業務開始日> 

 平成28年4月1日(金曜日)

H27.7.13 「株式会社ヨコオと販売提携契約締結」を発表

「次世代型半導体電気特性評価システム」事業で

株式会社ヨコオと提携し、㈱ヨコオより、高性能電気特性評価装置「 DdProber 」を販売する事になりました。

㈱ヨコオとの販売提携及びDdProber
15_07_13-プレスリリース.pdf
PDFファイル 593.4 KB

H26.11.13 「ナノテスティングシンポジウム」で発表&商業展示

H25.10.13「ナノテスティングシンポジウム」に参加

第33回ナノテスティングシンポジウム2013で発表

H25.7.9 「SEMICON-West SIF」に参加

2013年7月9日に開かれるSemicon WestのSIFに参加致します。  最新のナノプローバ技術をご紹介します。

H25.4.30「NEDO イノベーション実用化ベンチャー支援事業」に採択

 WI社の「自己検知型AFM式ナノプローバの微細化対応、ウエハ対応技術の開発」が平成24年度補正予算によるNEDOの「イノベーション実用化ベンチャー支援事業に採択されました。

事業期間: 平成25年4月30日 ~ 平成26年2月20日

 

 この補助金を活用して更に 最先端プロセスに対応できる技術開発を行います。

 

H24.12.5「セミコンジャパン2012 展示 SEMICON JAPAN 2012」

H23.11.7「第32回LSIテスティングシンポジューム投稿及び展示」

2012年11月7日(水)~日(金)第32回LSIテスティングシンポジューム(大阪千里)にて論文発表とナノプローバの参考提示を行いました。

H23.8.22「H23年度研究開発型ベンチャー技術開発助成事業採択

 WI社の「先端半導体デバイス故障解析用ナノプローバの開発」が

NEDO平成23年度研究開発型ベンチャー技術開発助成事業に採択されました。

H23.2.7 「産総研技術移転ベンチャー」称号 授与

H23.4.11 増資を受け、資本金8450万円となる。

H22.12.10 Wafer Integration株式会社の登記完了